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在AOI(自动光学检测仪)20多种算法中有一种算法称为Missing算法,是专门针对电容缺件的图像处理算法。它是通过比对标准电容两个电极的外接矩形和待测电容两个电极的外接举行的面积差异,来判断和检测电极是否发生缺件。如下示意:
上图为发生缺件时的元件示意图,①为正常元件的两端高亮电极区域的外接矩形,②为发生缺件时的两端高亮区域的外接矩形,则Missing算法下的差异值如下:
Result = (S2 - S1)/ S1 – 1
其中S2为外接矩形B的面积,S1为外接矩形A的面积。
提示:Missing算法的默认判定范围为(0, 15)。